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飛納掃描電鏡
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樣品名稱
鉛電池極片框架
樣品類型
金屬，固體
是否噴金
未噴金
設備型號
飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pure+
測試項目
背散射探頭模式
Topo 模式
3D 粗糙度重建
二次電子探頭
EDS mapping
測試目的
表面鍍層質量觀察
傳真：
郵箱：info@phenom-china.com
地址：上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
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